報告書番号

178004

タイトル（和文）

半導電釉がいしの霧中条件下における汚損特性－霧室における人工汚損試験結果－

タイトル（英文）

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

本報告は半導電釉がいしの表面抵抗と汚損物の組成，霧の濃度および温度差の影響，湿潤条件下での汚損がいしの耐電圧特性などについて検討を加えたものであり，その主要点は次のように要約される。（１）霧による半導電釉がいしの湿潤を防止するためには，汚損物が塩化ナトリウムおよび塩化マグネシウムの場合，周囲温度よりそれぞれ８～１０℃および２０～２２℃がいし表面温度を高くする必要がある。（２）霧中条件下における半導電釉がいしの表面抵抗は汚損物の組成によりかなり異なり，１時間後の表面抵抗は塩化ナトリウムの場合で７ＭΩ，塩化マグネシウムの場合で４ＭΩ程度となる。（３）半導電釉がいしの霧中耐電圧は２５０ｍｍ懸垂がいしの霧中耐電圧の２倍以上になるが，湿潤した汚損半導電釉がいしの耐電圧は表面抵抗が１００ｋΩ程度以下になると，２５０ｍｍ懸垂がいしの湿潤汚損耐電圧と同程度になる。

概要 （英文）

報告者

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