報告書番号

W86011

タイトル（和文）

遮断器合成試験用模擬線路に関する検討

タイトル（英文）

STUDIES ON ARTIFICIAL LINES FOR SYNTHETIC TEST CIRCUITS

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

遮断器合成試験への適用を図るため，近距離線路故障（ＳＬＦ）遮断試験用および初期過渡回復電圧（ＩＴＲＶ）発生用模擬線路の最適構成法について検討した。検討方法は，規格（ＪＥＣ－２３００）条件に合致した過渡回復電圧（ＴＲＶ）波形が得られる分布定数線路を基準とし，固有ＴＲＶおよび遮断苛酷度についてディジタル計算により比較した。１．ＳＬＦ用模擬線路ａ）π形，Ｔ形および直列形模擬線路のうち，分割段数６段のπ形線路が推奨される。ｂ）ＴＲＶの固有振巾率を１．６（規格下限値）に低減するための最適線路構成が得られた。２．ＩＴＲＶ用模擬線路ａ）π形線路を採用すれば，その分

概要 （英文）

TO OBTAIN THE OPTIMUM ARTIFICIAL LINE CONFIGURATION FOR SHORT-LINE FAULTS (SLF), THE INHERENT TRANSIENT RECOVERY VOLTAGES AND BREAKING SEVERITIES OF ARTIFICIAL LINES WERE COMPARED BY DIGITAL SIMULATIONS OF THE DISTRIBUTED CONSTANT CIRCUIT WHICH COINCIDE WITH THE JEC-2300 STANDARD. THE MAIN RESULTS ARE AS FOLLOWS; 1.ARTIFICIAL LINE FOR SLF (1)PI-NETWORKS WITH 6 DIVISIONS ARE RECOMMENDED AMONG PI, T AND SERIES LC NETWORKS. (2)OPTIMUM LINE CONFIGURATION WITH PARALLEL RESISTANCE WAS OBTAINED WHICH CAN REDUCE THE AMPLITUDE FACTOR TO ALLOWABLE LOWER LIMIT, 1.6. 2.ARTIFICIAL LINE FOR INITIAL TRANSIENT RECOVERY VOLTAGES (ITRV) (1)IN PRACTICE, 4 DIVISIONS ARE SUFFICIENT FOR THE PI-NETWORKS. (2)THE OPTIMUM CIRCUIT CONDITIONS FOR ITRV WAS ABTAINED WHICH CONSIDERED THE STRAY CAPACITANCES IN THE CURRENT SOURCE CIRCUIT, WHICH IS THE MAIN CAUSE OF DISTORTION OF ITRV WAVE FORMS.

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