報告書番号

W86020

タイトル（和文）

超高圧ＣＶケーブル用絶縁体界面の赤外分光分析

タイトル（英文）

FT-IR ANALYSIS OF THE INTERFACIAL REGION NEAR THE IMPROVED SEMICONDUCTING LAYER FOR AN EHV XLPE CABLE.

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

超高圧ＣＶケーブルの絶縁厚低減を目指し，半導電層に添加剤を混入することによる界面改良技術の検証を目的とした材料実験の結果，交流絶縁破壊強度の向上した試料が得られている。一方，ＦＴ－ＩＲ（フーリエ変換赤外光分析装置）マイクロフォーカス装置を用いて微小な領域における絶縁体中の添加剤濃度を測定する手法を会得し，添加剤拡散の詳細な分布計測が可能となった。絶縁破壊値の向上した試料について添加剤の効果に関するＦＴ－ＩＲ分析をしたところ，当初の予定どおり，界面近傍絶縁体中で，電気的性能に影響を及ぼすと予想される濃度分布が存在することが判明した。また，破壊値向上には絶縁体中に半導電層より拡散移行した添加剤重量濃度との相関性が強く，重量濃度１％以内では拡散重量濃度の大きいものほど絶縁破壊値の高いことが明確となった。

概要 （英文）

FOR THE PURPOSE OF REDUCING OF INSULATION THICKNESS IN EHV XLPE POWER CABLES, BREAK-DOWN TEST AND FT-IR ANALYSIS ARE CARRIED OUT ON DISC SPECIMENS WITH THE IMPROVED SEMICONDUCTING LAYER.A METHOD OF MEASURING THE CONCENTERATION OF ADDITIVES IN CROSSLINKED POLYETHYLENE, WHICH ARE FORMED BY DIFFUSION FROM THE SEMICONDUCTING LAYER INTO THE XLPE INSULATION LAYER, IS ESTABLISHED BY USING FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROPHOTOMETER WITH A MICROFOCUS SYSTEM FOR ANALYZING A VERY SMALL REGION. TO DETERMINE THE EFFECT OF AN ADDITIVE ON A.C. BREAKDOWN VOLTAGE, AN ADDITIVE DISTRIBUTION PROFILE AND ITS WEIGHT CONCETRATION IN XLPE INSULATION OF DISC SPECIMENS ARE MEASURED. AS A RESULT, IT IS OBSERVED THAT GRADIATION OF ADDITIVE CONCENTRATION IS BUILT UP IN INSULATION NEAR THE INTERFACIAL REGION BETWEEN THE SEMICONDUCTING LAYERAND THE INSULATION. IT IS FOUND THAT THERE EXISTS A CLOSE CORRELATION BETWEEN THE WEIGHT CONCENTRATION OF AN ADDITIVE AND THE BREAKDOWN VOLTAGE, AND THAT THE BEREAKDOWN VOLTAGE AND THAT THE BREAKDOWN VOLTAGE INCREASES AS THE WEIGHT CONCENTRATION OF AN ADDITIVE INCREASES UP TO 1%.

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