報告書番号

W86023

タイトル（和文）

三相一括形遮断器の合成短絡試験法の提案

タイトル（英文）

PROPOSAL OF SYNTHETIC SHORT-CIRCUIT TEST METHOD FOR THREE-PHASE ENCLOSURE TYPE CIRCUIT-BREAKERS.

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

三相一括形遮断器の三相合成短絡試験法について検討した。主な結果は，以下の通りである。１．ワイル電圧源とインパルス電圧源を組合わせた複合型試験法を提案した。２．この試験法は，第２，３相の回復電圧を新たに考案したインパルス電圧源から印加するもので非常に現実的かつ経済的である。３．実規模実験を実施し，その実用性が確認された。

概要 （英文）

A SIMPLIFIED TYPE OF SYNTHERIC SHORT-CIRCUITTEST OF THREE-PHASE ENCLOSED TYPE CIRCUIT-BREAKERS ARE EXAMINED. THE MAIN RESULTS ARE AS FOLLOWS;1.WE PROPOSED A COMBNIED TYPE TEST METHOD CONSISTING OF A WEIL TYPE AND TWO IMPULSE VOLTAGE SOURCES. 2.THE RECOVERYVOLTAGE ON THE SECOND AND THE THIRD PHASES IS SUPPLIED WITH NEWLY DEVELOPPED IMPULSE VOLTAGE SOURCES. IT IS VERY ECONIMICAL AND PRACTICAL IN USE. 3.THE PRACTICAL USABILITY OF THE TEST METHOD WAS CONFIRMED BY THREE-PHASE SYNTHERIC SHORT-CIRCUIT TESTS.

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