報告書番号

W90042

タイトル（和文）

界面拡散法による絶縁厚半減超高圧級ＣＶケーブルの開発－１５４ｋＶＣＶケーブルの初期絶縁特性－

タイトル（英文）

DEVELOPMENT OF EHV XLPE POWER CABLES WITH HALF INSULATION THICKNESS- INITIAL BREAKDOWN STRENGTH OF 154-KV XLPE POWER CABLES-

概要 （図表や脚注は「報告書全文」に掲載しております）

各種添加剤を半導電層に混ぜて絶縁厚３．２ｍｍを試作しインパルス絶縁破壊強度を測定した。５０％ワイブル絶縁破壊強度は平均では２ＭＶ／ｃｍ程度であるが最高値は２．３ＭＶ／ｃｍ程度である。また１％ワイブル絶縁破壊強度は平均では１．３ＭＶ／ｃｍ程度であるが最高値は１．７ＭＶ／ｃｍであった。また界面から１μｍ以内の平均ラメラ角は概ね４０度近傍の値となっている。内導界面の平均ラメラ角と絶縁破壊強度にはかなり明確な相関関係があり，平均ラメラ角が小さいほど絶縁破壊強度が大きく，破壊値のばらつきが少ない。外導界面の界面粗さと絶縁破壊強度には若干の相関関係が見られ，界面粗さが０．８～０．９μｍ程度近辺に最小の平均ラメラ角（３８度程度）を持つ様な分布が得られた。さらに絶縁厚９ｍｍのケーブルを試作し，交流絶縁破壊電圧を測定し平均絶縁破壊強度は，０．７６１ＭＶ／ｃｍであった。この結果から試作されたケーブルが１５４

概要 （英文）

THIS PAPER DESCRIBES THE EXPERIMENTS XLPE POWER CABLES WITH MODIFIED SEMICONDUCTING MATERIALS AND THE RELATIONSHIP BETWEEN THE AVERAGE LAMELLA ANGLE AND THE BREAKDOWN STRENGTH OF CABLES WITH AN INSULATION THICKNESS OF 3.5 MM. SEVERAL ADDITIVES WERE USED TO MODIFY THE SEMICONDUCTING LAYER MATERIALS. NINE SPECIMEN CABLES WITH A 3.5-MM INSULATION THICKNESS WERE MANUFACTURED. THE IMPULSE BREAKDOWN STRENGTHS OF THE CABLES WERE MEASURED. SOME SPECIMENS SHOWED ABOUT A 30% INCREASE IN THE 1% WEIBULL BREAKDOWN STRENGTH,AND THE SMALLER THE AVERAGE LAMELLA ANGLE,THE SMALLER THE DATA SCATTER. BASED ON THE TEST RESULTS,AN XLPE POWER CABLE WITH AN INSULATION THICKNESS OF 9MM WAS MANUFACTURED WITH THE SAME SEMICONDUCTING MATERIALS AS USED IN THE CABLE SPECIMEN WITH HIGHEST BREAKDOWN STRENGTH. THE AVERAGE AC BREAKDOWN STRENGTH WAS 0.761 MV/CM. THIS VALUE SATISFIES THE REQUIRE INITIAL BREAKDOWN STRENGTH FOR 154-KV XLPE POWER CABLES AND CONFIRMED THAT 154-KV XLPE POWER CABLES WITH AN INSULATION THICKNESS OF 9 MM CAN BE MANUFACTURED.

報告者

キーワード